主要测试程序是指 被ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）识别和执行的指令集，用于集成电路测试的核心。测试程序的主要功能包括：
指引ATE如何与被测器件（DUT）交互：
这涉及如何对DUT施加不同的输入激励，如何测量其响应信号，以及将测量结果与设定的门限值（Limit）进行比较。
判定测试结果：
最终，测试程序会判定测试结果为“通过”（Pass）还是“失效”（Fail）。
此外，测试程序根据应用场景的不同，还可以分为以下几类：
特性化分析程序：
此类程序主要在芯片设计完成后的分析阶段使用，目的是通过全面测试各种参数（如电压、电流、频率等）的组合变化，来确定产品的工作边界条件。特性化分析程序有助于发现产品在极端条件下的表现，为产品手册提供准确的数据支持，并为后续的设计和工艺改进提供参考依据。
量产程序：
量产测试程序的主要目的是迅速、准确地筛选出合格的产品。它要求在覆盖所有关键测试项的前提下，尽可能地简化流程，以缩短测试时间，降低成本。因此，量产程序通常只测试关键参数，并依据这些参数快速判断产品的合格性。
这些测试程序对于确保集成电路的质量和性能至关重要，它们帮助工程师在设计和生产过程中发现并解决潜在的问题。